温升测试是为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试其重要元件的温升，将被测设备置于高于其额定工作温度（T=25℃）的某一特定温度（T=70℃）下运行，稳定后记录其元件高于环境温度的温升，验证此产品的设计是否合理。广泛用于电子电气、车辆、医疗、仪器仪表等领域，整机、元器件、包装、材料等。
测试标准：ISO 1716，GB/T18655
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